661. 1994 Symposium on VLSI Circuits: Digest of Technical Papers, June 9-11, 1994, Honolulu
پدیدآورنده: sponsored by the IEEE Soild-State Circuits Council and the Japan Society of Applied Physics, in cooperation with the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuit - Very Large scale integration - Congresses , Computers - Circuits - Congresses
رده :
TK
7874
.
S958
1994
662. 1993 Symposium on VLSI Circuits : Digest of technical papers, may 19-21, 1993 Kyoto
پدیدآورنده: Sponsored by the Japan Society of Applied Physics and the IEEE Solid-State Circuits Council; in cooperation with the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Congresses , Computers - Circuits - Congresses
رده :
TK
7874
.
S958
1993
663. 1994 Symposium on VLSI Circuits, June 9-11, 1994, Honolulu: digest of technical papers
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Congresses ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
S978
1994
664. 1993 Symposium on VLSI Circuits, May 19-21, 1993, Kyoto: digest of technical papers
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Congresses ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
S978
1993
665. 1994 Symposium on VLSI Technology: Digest of Technical Papers, June 7-9, 1994, Honolulu
پدیدآورنده: ]sponsored by[ the IEEE Electron Devices Society, The Japan Society of Applied Physics
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very Large scale integration - Congresses , Computers - Circuits - Congresses
رده :
TK
7874
.
S95
1994
666. System on chip design languages
پدیدآورنده: / edited by Anne Mignotte, Eugenio Villar, Lynn Horobin
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Systems on a chip,Computer hardware description languages,Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
رده :
TK
7885
.
7
.
S95
2002
667. System-on-chip test architecture
پدیدآورنده: / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Systems on a chip--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Design
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
S978
,
2008eb
668. System-on-chip test architectures
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
669. System-on-chip test architectures :
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
670. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
671. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
672. System specification and design languages
پدیدآورنده: / Tom J. Kaazmierski, Adam Morawiec, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Computer hardware description languages--Congresses,Integrated circuits--Very large scale integration--Design and construction--Congresses,Formal methods (Computer science)--Congresses,Software engineering--Congresses,Computer software--Verification--Congresses,Software architecture--Congresses
رده :
TK7885
.
7
.
F35
2012
673. Systematic design of analog IP blocks
پدیدآورنده: / by J. Vandenbussche, G. Gielen, M. Steyaert
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuit layout,Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction,Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design and construction
رده :
TK
7874
.
55
.
V36
2003
674. Systems on silicon: : an International Specialist Seminar on Systems on Silicon
پدیدآورنده: International Specialist Seminar on Systems on Silicon )3891 : Stratford-upon-Avon, England(
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Congresses,، Silicon- Congresses
675. Technology computer aided design :
پدیدآورنده: edited by Chandan Kumar Sarkar.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer-aided design.,Metal oxide semiconductor field-effect transistors-- Computer-aided design.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- General.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Material Science.
676. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK
,
7874
,.
T4323
,
2011
677. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
678. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ;
679. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits /
پدیدآورنده: S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits and Systems.,Control Structures and Microprogramming.,Logic Design.,Performance and Reliability.,Algorithms & data structures.,Circuits & components.,Computer architecture & logic design.,Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Systems analysis & design.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
رده :
TK7874
.
75
680. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده: edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
